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  • BSD-660二氧化硅比表面積測定儀
    BSD-660二氧化硅比表面積測定儀

    更新時(shí)間：2024-09-22

    型號：BSD-660

    瀏覽量：2207

    二氧化硅比表面積測定儀 是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過BET或Langmuir等理論公式計(jì)算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計(jì)算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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  • 全自動高通量高精度比表面積及孔徑分析儀
    全自動高通量高精度比表面積及孔徑分析儀

    更新時(shí)間：2024-09-23

    型號：

    瀏覽量：319

    全自動高通量高精度比表面積及孔徑分析儀◆ 比表面積及介孔，微孔分析 ◆ 高通量分析：最多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動：脫氣→測試，全自動切換，無需人為干預(yù)
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  • BSD-660超微孔全自動比表面積及孔徑分析儀
    BSD-660超微孔全自動比表面積及孔徑分析儀

    更新時(shí)間：2024-09-23

    型號：BSD-660

    瀏覽量：1074

    超微孔全自動比表面積及孔徑分析儀 產(chǎn)品概述： ◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析 ◆ 高通量分析：最多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動：脫氣→測試，全自動切換，無需人為干預(yù)
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  • BSD-PM靜態(tài)容量法 高性能比表面積及微孔分析儀
    BSD-PM靜態(tài)容量法 高性能比表面積及微孔分析儀

    更新時(shí)間：2024-09-23

    型號：BSD-PM

    瀏覽量：684

    靜態(tài)容量法 高性能比表面積及微孔分析儀 產(chǎn)品概述： ◆ 測試功能：比表面積，孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評價(jià) ◆ 吸附質(zhì)種類：各種非腐蝕性氣體測試 ◆ 測試范圍：比表面積0.0005㎡/g以上，孔徑0.35-500nm ◆ 分析位數(shù)量：1/2個(gè)分析位； 技術(shù)參數(shù) / Technical Parameter ◆ 測試功能：比表面積，孔結(jié)構(gòu)及其他氣體吸附性能評價(jià)
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  • BSD-66012分析位全自動高通量比表面積及孔徑分析儀
    BSD-66012分析位全自動高通量比表面積及孔徑分析儀

    更新時(shí)間：2024-09-23

    型號：BSD-660

    瀏覽量：636

    12分析位全自動高通量比表面積及孔徑分析儀 產(chǎn)品概述： ◆ 比表面積及介孔，微孔，超微孔分析 ◆ 高通量分析：最多同時(shí)分析12個(gè)樣品 ◆ 真正全自動：脫氣→測試，全自動切換，無需人為干預(yù) 主要功能 / Main Function ◆ 高通量快速比表面積分析； ◆ 孔體積和孔徑分布（介孔、微孔、超微孔） ◆ 常規(guī)氣體吸附，如 N2,O2,Ar,CO,CO2
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  • BSD-PS比表面及孔隙率檢測
    BSD-PS比表面及孔隙率檢測

    更新時(shí)間：2024-09-23

    型號：BSD-PS

    瀏覽量：1355

    比表面及孔隙率檢測儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)*,。
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  • BSD-PS比表面及孔隙率檢測儀
    BSD-PS比表面及孔隙率檢測儀

    更新時(shí)間：2024-09-23

    型號：BSD-PS

    瀏覽量：1364

    比表面及孔隙率檢測儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)*,。
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  • BSD-PS比表面及孔隙率測量
    BSD-PS比表面及孔隙率測量

    更新時(shí)間：2024-09-23

    型號：BSD-PS

    瀏覽量：1312

    比表面及孔隙率測量儀，具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站，2個(gè)樣品分析站。測試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國內(nèi)，遠(yuǎn)銷海外，獲得多項(xiàng)國內(nèi)技術(shù)*,。
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