比表面積分析儀可用于電池材料比表面積分析,催化劑材料比表面積測(cè)試,炭黑總表面積及外表面積測(cè)定等,廣泛適用于高校及科研院所材料研究和粉體材料生產(chǎn)企業(yè)產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)控.我公司自行研發(fā)生產(chǎn)的3H-2000系列全自動(dòng)氮吸附，為國(guó)內(nèi)，2000年進(jìn)入市場(chǎng)，經(jīng)過多年的不斷研發(fā)創(chuàng)新，性能達(dá)到國(guó)內(nèi)，*水平，其中多項(xiàng)性能指標(biāo)超越進(jìn)口儀器，是國(guó)內(nèi)高精度的*.我公司多年以來一直承擔(dān)*理化所、化學(xué)所、北航、北理工等科研單位的的比表面積測(cè)試工作并受到信賴和好評(píng)。儀器*的技術(shù)和穩(wěn)定的性能及良好的售后服務(wù)，使得我們產(chǎn)品在客戶中享有很高的聲譽(yù)和信任。

　　比表面積分析儀的性能參數(shù):

　　測(cè)試方法：多功能性,可進(jìn)行BET多點(diǎn)法、BET單點(diǎn)法、Langmuir多點(diǎn)法、Langmuir單點(diǎn)法、固體標(biāo)樣參比法等測(cè)試,統(tǒng)計(jì)層厚法（計(jì)算外比表面儀積）、粒度估算、樣品BET吸附常數(shù)C等測(cè)試方法；

　　測(cè)試精度：測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。BET多點(diǎn)法、BET單點(diǎn)法、Langmuir多點(diǎn)法、Langmuir單點(diǎn)法、測(cè)試相對(duì)誤差小于±2%；固體標(biāo)樣參比法測(cè)試相對(duì)誤差小于±1.5%；

　　測(cè)試范圍：測(cè)試范圍廣,可測(cè)定比表面儀積在0.01m2/g以上的范圍內(nèi)的物質(zhì)，滿足所有粉體物質(zhì)及多孔物質(zhì)比表面積分析；樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等。

　　測(cè)試時(shí)間：測(cè)試時(shí)間:BET多點(diǎn)法,同時(shí)可測(cè)試4個(gè)樣品，測(cè)試速度平均每個(gè)樣品每分壓點(diǎn)測(cè)定時(shí)間約5分鐘,平均每個(gè)樣品總用時(shí)約30min；BET單點(diǎn)法,同時(shí)可測(cè)試4個(gè)樣品,測(cè)試速度平均每個(gè)樣品測(cè)定時(shí)間約5分鐘；固體標(biāo)樣參比法,同時(shí)可測(cè)試3個(gè)樣品,平均每個(gè)樣品測(cè)定時(shí)間約6分鐘,僅為國(guó)外同類儀器測(cè)試時(shí)間的四分之一；以上測(cè)試時(shí)間不包含樣品吹掃凈化預(yù)處理時(shí)間.